Εξελιγμένες απεικονιστικές τεχνικές που βασίζονται στην χρήση λέιζερ στενών παλμών για την διαστρωματική μελέτη ζωγραφικών επιφανειών

Περιγραφή εργασιών:

Η υψηλής ανάλυσης μελέτη της δομής και αλληλουχίας επιφανειακών στρωμάτων σε έργα τέχνης χρησιμοποιώντας μη καταστροφικές τεχνικές αποτελεί σημαντική εξέλιξη στον χώρο της συντήρησης. Η μη-γραμμική μικροσκοπία (NLM) μπορεί να δώσει άμεσα (με χρόνο απόκρισης του συστήματος της τάξης του 1 λεπτού) αναλυτική πληροφορία με υψηλή διακριτική ικανότητα (της τάξης του 1μm) και έτσι μπορεί να βοηθήσει τον συντηρητή στην λεπτομερή γνώση της διαστρωμάτωσης του έργου που καλείται να χειριστεί.

Παράλληλα η χρήση παλμικών πηγών ακτινοβολίας THz για την ανίχνευση και χαρτογράφηση επιζωγραφίσεων και κρυμμένων υποκείμενων στρωμάτων διευρύνει σημαντικά την γνώση των αντικειμένων και επιφανειών υπό μελέτη.

Στην παρούσα εργασία θα δοθεί έμφαση:

α)  στη μεθοδολογία ανάλυσης με τεχνικές NLM οργανικών επικαλυπτικών φιλμ (ιστορικά βερνίκια και σύγχρονα προστατευτικά) τόσο σε τεχνητά δείγματα όσο και σε πραγματικά αντικείμενα και στην ανάπτυξη της σχετικής βάσης δεδομένων.

β)  στην μεθοδολογία προσδιορισμού με τεχνικές NLM του πάχους και της διαστρωμάτωσης φιλμ χρωστικών τόσο σε τεχνητά δείγματα όσο και σε πραγματικά αντικείμενα, την ανάπτυξη της σχετικής βάσης δεδομένων και την κατάταξη των δεδομένων ανά ιστορική εποχή

γ)στην εξέλιξη της μεθοδολογίας για την χρήση απεικονιστικών τεχνικών NLM σε πραγματικά έργα τέχνης επιλύοντας τα σχετικά προβλήματα που προκύπτουν κατά την μετάβαση από τα τεχνητά ομοιογενή δείγματα σε πραγματικές περιπτώσεις έργων τέχνης και στην ανάπτυξη πρότυπης απεικονιστικής μονάδας για την εύχρηστη μελέτη των έργων αυτών.

δ)  στη μελέτη πινάκων με παλμικές πηγές ακτινοβολίας THz με έμφαση την ανίχνευση και χαρτογράφηση επιζωγραφίσεων και ενδιάμεσων στρωμάτων και την ανάπτυξη του σχετικού λογισμικού που θα παρουσιάζει την καταγραφόμενη πληροφορία σε μορφή διαχειρίσιμη και εκμεταλλεύσιμη από το συντηρητή/μελετητή.

Ρόλος φορέα:

ΙΗΔΛ- Μεθοδολογία για την χρήση τεχνικών μη-γραμμικής μικροσκοπίας (NLM) και THz για την ανάλυση και τον προσδιορισμό του πάχους και της διαστρωμάτωσης α) οργανικών επικαλυπτικών φιλμ, β) χρωστικών σε ζωγραφικές επιφάνειες τόσο σε τεχνητά όσο και σε πραγματικά δείγματα.

Παραδοτέα:

α)Αναφορά για την μεθοδολογία για την χρήση τεχνικών μη-γραμμικής μικροσκοπίας (NLM) για την ανάλυση και τον προσδιορισμό του πάχους και της διαστρωμάτωσης 1) οργανικών επικαλυπτικών φιλμ, 2) χρωστικών σε ζωγραφικές επιφάνειες τόσο σε τεχνητά όσο και σε πραγματικά δείγματα.

Διαθέσιμο εδώ:

β)Αναφορά για την μεθοδολογία για την χρήση ακτινοβολίας THz για την ανάλυση και τον προσδιορισμό του πάχους και της διαστρωμάτωσης 1) οργανικών επικαλυπτικών φιλμ, 2) χρωστικών σε ζωγραφικές επιφάνειες τόσο σε τεχνητά όσο και σε πραγματικά δείγματα.

Διαθέσιμο εδώ: